阻抗分析儀IM3570可實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查，一臺(tái)儀器能實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查。LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量。適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量，分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量。 LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀被設(shè)計(jì)用于測(cè)試電子元件在某些頻率或?qū)掝l率范圍內(nèi)的阻抗。如果阻抗不符合規(guī)格，則這些電子元件將不能正常工作。
LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀使用自動(dòng)平衡電橋法（ABB）和射頻電流-電壓法（RF I-V）兩種方法測(cè)量阻抗。
使用自動(dòng)平衡電橋法的LCR測(cè)試儀或阻抗分析儀可以在較寬的頻率范圍內(nèi)（1MHz-100MHz）測(cè)量較大的阻抗，適用于低頻、通用測(cè)試，但尚不足以進(jìn)行高頻測(cè)試。
而使用射頻電流-電壓法的儀器通常提供較高的精度（約1%左右），并可以在高頻下測(cè)試較大的阻抗。
LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀到底有哪些差別呢？
LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀可以使用以上兩種方法測(cè)量阻抗，這兩種產(chǎn)品之間的差別更多的是功能和顯示：
LCR測(cè)試儀通常采用單一頻率進(jìn)行測(cè)量并提供數(shù)值。
阻抗分析儀可以不斷地切換頻率進(jìn)行測(cè)量，并提供頻率特性圖，也可以執(zhí)行等效電路分析。
隨著信號(hào)電感器和功率電感器在智能手機(jī)、平板電腦和汽車(chē)方面的使用持續(xù)增長(zhǎng)，阻抗分析儀和LCR的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，阻抗分析儀尺寸緊湊，寬頻率范圍，憑借高性?xún)r(jià)比獲得廣大用戶(hù)的認(rèn)可。
點(diǎn)擊交流